J. C. Aubele: шукати на сайті Z-Library

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (500+)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

Die Rechtsprechung des Bundesverfassungsgerichts zu den Grenzen richterlicher Entscheidungsfindung

Bodo Pieroth and Tobias Aubel

Журнал:

JuristenZeitung

Рік:

2003

Мова:

german

Файл:

PDF, 1.48 MB

german, 2003

The Neuropsychological Profile and Phenomenology of Late Onset Psychosis: A Cross-sectional Study on the Differential Diagnosis of Very-Late-Onset Schizophrenia-Like Psychosis, Dementia with Lewy Bodies and Alzheimer’s Type Dementia with Psychosis

Van Assche, Lies, Van Aubel, Evelyne, Van de Ven, Lucas, Bouckaert, Filip, Luyten, Patrick, Vandenbulcke, Mathieu

Журнал:

Archives of Clinical Neuropsychology

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 272 KB

english, 2018

Lithium recovery from lithium-containing micas using sulfur oxidizing microorganisms

Reichel, S., Aubel, T., Patzig, A., Janneck, E., Martin, M.

Журнал:

Minerals Engineering

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.16 MB

english, 2017

Blended care in the treatment of subthreshold symptoms of depression and psychosis in emerging adults: A randomised controlled trial of Acceptance and Commitment Therapy in Daily-Life (ACT-DL)

van Aubel, Evelyne, Bakker, Jindra Myrthe, Batink, Tim, Michielse, Stijn, Goossens, Liesbet, Lange, Iris, Schruers, Koen, Lieverse, Ritsaert, Marcelis, Machteld, van Amelsvoort, ThÃ©rÃ¨se, van Os, Jim

Журнал:

Behaviour Research and Therapy

Рік:

2020

Мова:

english

Файл:

PDF, 584 KB

english, 2020

Highly accelerated electromigration lifetime test (HALT) of copper

Aubel, O., Hasse, W., Hommel, M.

Журнал:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 512 KB

english, 2003

[IEEE 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium - Garden Grove (Anaheim), CA, USA (2010.05.2-2010.05.6)] 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium - Practical considerations of process corner evaluation for deep-sub micron technology nodes using the example of its impact on electromigration

Aubel, Oliver, Hoffmann, Thomas

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 351 KB

english, 2010

Digging into the past of nature carpets. The evaluation of treatments on artworks by Piero Gilardi made from polyurethane ether foam

van Aubel, Carien, de Groot, Suzan, van Keulen, Henk, Snijders, Evelyne

Журнал:

Journal of Cultural Heritage

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.10 MB

english, 2019

Trauma exposure and post-traumatic stress disorder in bipolar disorder

Hans-Jörg Assion, Nils Brune, Nadja Schmidt, Thomas Aubel, Marc-Andreas Edel, Miriam Basilowski, Georg Juckel, Ulrich Frommberger

Журнал:

Social Psychiatry and Psychiatric Epidemiology

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 215 KB

english, 2009

Investigation of the influence of thermal treatment on interconnect-barrier interfaces in copper metallization systems

Oliver Aubel, Eberhard Bugiel, Dietmar Krüger, Wolfgang Hasse, Martina Hommel

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 302 KB

english, 2006

G Protein–Coupled Receptors Revisited: Therapeutic Applications Inspired by Synthetic Biology

Heng, Boon Chin, Aubel, Dominique, Fussenegger, Martin

Журнал:

Annual Review of Pharmacology

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.94 MB

english, 2014

Einlagenrückgewähr, Prospekthaftung und Konzernrecht bei öffentlichen Angeboten von Aktien

Arnold, Michael, Aubel, Stephan

Журнал:

Zeitschrift für Unternehmens und Gesellschaftsrecht

Рік:

2012

Мова:

german

Файл:

PDF, 242 KB

german, 2012

[AIP STRESS-INDUCED PHENOMENA IN METALLIZATION: Tenth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization - Austin (Texas) (5–7 November 2008)] AIP Conference Proceedings - The Evolution of Barrier Properties During Reliability Testing of Cu Interconnects

Meyer, M. A., Aubel, O., Feustel, F., Engelmann, H. J., Zienert, I., Poppe, J., Gehre, D., Witt, C., Ho, Paul S., Zschech, Ehrenfried, Ogawa, Shinichi

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.96 MB

english, 2009

Membrane-Based Conditioning of an Innovative Oil-Based Preservative for Food Technology

T. Aubel, R. Haseneder, J.-U. Repke

Журнал:

Chemical Engineering & Technology

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 310 KB

english, 2011

Determination of migration effects in Cu-via structures with respect to process-induced stress

Weide-Zaage, Kirsten, Zhao, Jiani, Ciptokusumo, Joharsyah, Aubel, Oliver

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.13 MB

english, 2008

Simulation of migration effects in nanoscaled copper metallizations

Weide-Zaage, Kirsten, Kashanchi, Farzan, Aubel, Oliver

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.34 MB

english, 2008

Investigation of stress distribution in via bottom of Cu-via structures with different via form by means of submodeling

Johar Ciptokusumo, Kirsten Weide-Zaage, Oliver Aubel

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.46 MB

english, 2009

Amino-caprolactam γ-secretase inhibitors showing potential for the treatment of Alzheimer’s disease

Martin L. Neitzel, Danielle L. Aubele, Jennifer L. Marugg, Jacek J. Jagodzinski, Andrei W. Konradi, Michael A. Pleiss, Balazs Szoke, Wes Zmolek, Erich Goldbach, Kevin P. Quinn, John-Michael Sauer, Eli

Журнал:

Bioorganic & Medicinal Chemistry Letters

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.80 MB

english, 2011

Copper–dielectric cap interface with enhanced reliability for 45 nm technology and beyond

J. Hohage, U. Mayer, M.U. Lehr, F. Feustel, O. Aubel, C. Hennesthal

Журнал:

Microelectronic Engineering

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 516 KB

english, 2010

20q13.2 Amplification in intraductal hyperplasia adjacent to in situ and invasive ductal carcinoma of the breast

M. Werner, Anita Mattis, Michaela Aubele, Margaret Cummings, Horst Zitzelsberger, Peter Hutzler, Heinz Höfler

Журнал:

Virchows Archiv

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 835 KB

english, 1999

Electron cyclotron resonance plasma ion beam effects on the formation of SiC on Si(001) characterized by in-situ photoemission

M. Diani, D. Aubel, J.L. Bischoff, L. Kubler, D. Bolmont

Журнал:

Thin Solid Films

Рік:

1994

Мова:

english

Файл:

PDF, 470 KB

english, 1994

The role and influence of grandmothers on child nutrition: culturally designated advisors and caregivers

Judi Aubel

Журнал:

Maternal & Child Nutrition

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 169 KB

english, 2012

Molecular Genetic Changes in Metastatic Primary Barrett’s Adenocarcinoma and Related Lymph Node Metastases: Comparison with Nonmetastatic Barrett’s Adenocarcinoma

Bink, Karin, Hutzler, Peter, Bruch, Jochen, Braselmann, Herbert, Aubele, Michaela M., Mueller, James, Stein, Hubert, Siewert, Jörg R., Walch, Axel K., Zitzelsberger, Horst F.

Журнал:

Modern Pathology

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 828 KB

english, 2000

Macrolide-based transgene control in mammalian cells and mice

Weber, Wilfried, Fux, Cornelia, Daoud-El Baba, Marie, Keller, Bettina, Weber, Cornelia C., Kramer, Beat P., Heinzen, Christoph, Aubel, Dominique, Bailey, James E., Fussenegger, Martin

Журнал:

Nature Biotechnology

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.95 MB

english, 2002

An engineered epigenetic transgene switch in mammalian cells

Kramer, Beat P, Viretta, Alessandro Usseglio, Baba, Marie Daoud-El, Aubel, Dominique, Weber, Wilfried, Fussenegger, Martin

Журнал:

Nature Biotechnology

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 166 KB

english, 2004

Learning to Recognize Volcanoes on Venus

Michael C. Burl, Lars Asker, Padhraic Smyth, Usama Fayyad, Pietro Perona, Larry Crumpler, Jayne Aubele

Журнал:

Machine Learning

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.11 MB

english, 1998

Senegalese grandmothers promote improved maternal and child nutrition practices: the guardians of tradition are not averse to change

Judi Aubel, Ibrahima Touré, Mamadou Diagne

Журнал:

Social Science & Medicine

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 284 KB

english, 2004

Grain structure analysis and effect on electromigration reliability in nanoscale Cu interconnects

Cao, Linjun, Ganesh, K. J., Zhang, Lijuan, Aubel, Oliver, Hennesthal, Christian, Hauschildt, Meike, Ferreira, Paulo J., Ho, Paul S.

Журнал:

Applied Physics Letters

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.42 MB

english, 2013

High van Hove singularity extension and Fermi velocity increase in epitaxial graphene functionalized by intercalated gold clusters

Nair, M. N., Cranney, M., Vonau, F., Aubel, D., Le Fèvre, P., Tejeda, A., Bertran, F., Taleb-Ibrahimi, A., Simon, L.

Журнал:

Physical Review B

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.13 MB

english, 2012

Synthetic mammalian gene circuits for biomedical applications

Ye, Haifeng, Aubel, Dominique, Fussenegger, Martin

Журнал:

Current Opinion in Chemical Biology

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.40 MB

english, 2013

COS-OGA: A novel oligosaccharidic elicitor that protects grapes and cucumbers against powdery mildew

van Aubel, Géraldine, Buonatesta, Raffael, Van Cutsem, Pierre

Журнал:

Crop Protection

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 1017 KB

english, 2014

Identification of Differentially Expressed Proteins in Triple-Negative Breast Carcinomas Using DIGE and Mass Spectrometry

Schulz, Daniela M., Böllner, Claudia, Thomas, Gerry, Atkinson, Mike, Esposito, Irene, Höfler, Heinz, Aubele, Michaela

Журнал:

Journal of Proteome Research

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.89 MB

english, 2009

[IEEE 2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2010) - Singapore, Singapore (2010.07.5-2010.07.9)] 2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits - Mechanical characterization of copper based metallizations with different via-bottom geometries

Ciptokusumo, Johar, Weide-Zaage, Kirsten, Aubel, Oliver

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 729 KB

english, 2010

Multicenter Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization Mass Spectrometry Imaging (MALDI MSI) Identifies Proteomic Differences in Breast-Cancer-Associated Stroma

Dekker, Tim J. A., Balluff, Benjamin D., Jones, Emrys A., Schöne, Cédrik D., Schmitt, Manfred, Aubele, Michaela, Kroep, Judith R., Smit, Vincent T. H. B. M., Tollenaar, Rob A. E. M., Mesker, Wilma E.,

Журнал:

Journal of Proteome Research

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 9.55 MB

english, 2014

Empirical BEOL-TDDB evaluation based on I(t)-trace analysis

Aubel, O., Beyer, A., Talut, G., Gall, M.

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 851 KB

english, 2014

A quantitative study of Phosphorous implantation damage on the thick gate oxide of the 28nm node

Wan, Xinggong, Chandrashekhar, Sandhya, Bayha, Boris, Trentzsch, Martin, Balzer, Torben, Siddabathula, Mahesh, Aubel, Oliver

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 985 KB

english, 2014

Robust Electromigration reliability through engineering optimization

Ng, Wee Loon, Tee, Kheng Chok, Liu, Junfeng, Ee, Yong Chiang, Aubel, Oliver, Tan, Chuan Seng, Pey, Kin Leong

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.28 MB

english, 2014

[IEEE 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium - Garden Grove (Anaheim), CA, USA (2010.05.2-2010.05.6)] 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium - Effects of cap layer and grain structure on electromigration reliability of Cu/low-k interconnects for 45 nm technology node

Zhang, L., Zhou, J. P., Im, J., Ho, P. S., Aubel, O., Hennesthal, C., Zschech, E.

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.63 MB

english, 2010

[IEEE 2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual. - San Jose, CA, USA (April 17-21, 2005)] 2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual. - New approach of 90nm low-k interconnect evaluation using a voltage ramp dielectric breakdown (VRDB) test

Aubel, O., Kiene, M., Yao, W.

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.02 MB

english, 2005

Calderas on Mars: characteristics, structure, and associated flank deformation

Crumpler, L. S., Head, J. W., Aubele, J. C.

Журнал:

Geological Society London Special Publications

Рік:

1996

Мова:

english

Файл:

PDF, 20.06 MB

english, 1996

[IEEE 2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual - Phoenix, AZ, USA (2007.04.15-2007.04.19)] 2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual - Investigation of via Bottom Barrier Integrity Impact on Electromigration

Aubel, O., Thierbach, S., Koschinsky, F., Feustel, F., Hau-Riege, C.S., Zistl, C.

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.23 MB

english, 2007

[IEEE 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium - Garden Grove (Anaheim), CA, USA (2010.05.2-2010.05.6)] 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium - Non-destructive current-ramp dielectric breakdown (IRDB) for fast BEOL reliability monitoring

Yiang, Kok-Yong, Francis, Rick, Marathe, Amit, Aubel, Oliver

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 284 KB

english, 2010

[IEEE 2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual - Phoenix, AZ, USA (2007.04.15-2007.04.19)] 2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual - Reliability Challenges in Copper Metallizations arising with the PVD Resputter Liner Engineering for 65nm and Beyond

Fischer, A.H., Aubel, O., Gill, J., Lee, T.C., Li, B., Christiansen, C., Chen, F., Angyal, M., Bolom, T., Kaltalioglu, E.

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 426 KB

english, 2007

grown on Ge(001)

Stoehr, M., Aubel, D., Juillaguet, S., Bischoff, J. L., Kubler, L., Bolmont, D., Hamdani, F., Fraisse, B., Fourcade, R.

Журнал:

Physical Review B

Рік:

1996

Мова:

english

Файл:

PDF, 95 KB

english, 1996

The continuing Cambodian tragedy

van Aubel, A. N.

Журнал:

Peace Review

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 500 KB

english, 1990

Lattice damage and atomic mixing induced by As++ implantation and thermal annealing in AlAs/GaAs multiple quantum-well structures

D. Huang, M. Kallergi, J. Aubel, S. Sundaram, G. Desalvo, J. Comas

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.33 MB

english, 1991

Competency-Based General Physics Instruction with a One-Man Staff

Aubel, J. L.

Журнал:

American Journal of Physics

Рік:

1974

Мова:

english

Файл:

PDF, 838 KB

english, 1974

[IEEE 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium - Montreal, QC, Canada (2009.04.26-2009.04.30)] 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium - Process options for improving electromigration performance in 32nm technology and beyond

Aubel, O., Hohage, J., Feustel, F., Hennesthal, C., Mayer, U., Preusse, A., Nopper, M., Lehr, M. U., Boemmels, J., Wehner, S.

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 454 KB

english, 2009

[IEEE 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Phoenix, AZ, USA (2008.04.27-2008.05.1)] 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium - Comprehensive reliability analysis of CoWP Metal Cap unit processes for high volume production in sub-μm dimensions

Aubel, O., Thierbach, S., Seidel, R., Freudenberg, B., Meyer, M.A., Feustel, F., Poppe, J., Nopper, M., Preusse, A., Zistl, C., Weide-Zaage, K.

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 322 KB

english, 2008

[IEEE 2008 International Interconnect Technology Conference - IITC - Burlingame, CA, USA (2008.06.1-2008.06.4)] 2008 International Interconnect Technology Conference - Integration Aspects of CoWP Capping Layers for Electromigration Enhancement

Preusse, A., Seidel, R., Aubel, O., Nopper, M., Freudenberg, B., Schaller, M., Fecher, M., Letz, T., Bartsch, C., Ott, A., Friedemann, M., Feustel, F., Meyer, M.A., Limbecker, P.

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 530 KB

english, 2008

Constant-Current Wafer-Level Electromigration Test: Normalization of Data for Production Monitoring

Aubel, Oliver, Sullivan, T. D., Massey, D., Lee, T. C., Merrill, T., Polchlopek, S., Strong, A.

Журнал:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 830 KB

english, 2007